| 品牌 | 正臺ZTCK | 適用領(lǐng)域 | 科研 |
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| 溫度范圍 | -65～+150℃ | 溫度波動度 | ±0.5℃ |
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| 溫度均勻度 | ≤±1.0% | 額定電壓 | 380V |
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| 重量 | 580kg | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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| 加工定制 | 是 | | |
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液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱-詳細(xì)資料歡迎垂詢
液槽高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)： GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn) GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn) GJB150.4-86 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 GJB150.3-86 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 IEC68-2-14 試驗(yàn)N：溫度變化 GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB 2423-22環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 MIL-STD-202F美軍標(biāo)準(zhǔn),電子及電氣試驗(yàn)方法 MIL-STD-883E美軍標(biāo)準(zhǔn),集成電路失效分析方法
主要參數(shù)
n溫度暴露范圍：+60℃ ～ +150℃/-65℃ ～ 0℃
n測試時(shí)間： ≥10minn溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：≥30Sn測試方式：試樣放入不同溫度的液體介質(zhì)中型號 | ZT-CTH-27C | ZT-CTH-56C | 模式 | 浸漬在液體介質(zhì)浴中，通過樣品籃的移動到達(dá)低溫或高溫槽內(nèi) | 試驗(yàn)樣品尺寸(mm) | 130×160×130 【W(wǎng)*H*D】 | 160×160×220 【W(wǎng)*H*D】 | 預(yù)冷溫度范圍 | -70℃～0℃ | 預(yù)熱溫度范圍 | +60℃～+200℃ | 溫度沖擊范圍 | -40℃～+150℃/-65℃～+150℃ | 測試時(shí)間 | ≥10 mins | ≥10 mins | 轉(zhuǎn)換移動時(shí)間 | ≤30s | 溫度偏差 | ±1.0℃ | 溫度波動度 | ±0.5℃ | 溫度波動度 | ±1.0℃ | 使用電源 | AC 3￠5W 380V 60/50Hz |
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